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當(dāng)前位置:首頁(yè)新聞中心德國(guó)EPKMiniTest720/730/740涂層測(cè)厚儀

德國(guó)EPKMiniTest720/730/740涂層測(cè)厚儀

更新時(shí)間:2017-07-12點(diǎn)擊次數(shù):382

德國(guó)EPKMiniTest720/730/740涂層測(cè)厚儀 產(chǎn)品介紹:

-    新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線,加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在涂層測(cè)厚的
-    創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的性
-    測(cè)量范圍達(dá)15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭
-    FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)

 

德國(guó)EPKMiniTest720/730/740涂層測(cè)厚儀  產(chǎn)品特點(diǎn):

 

-    SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加
-    可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-    FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤
-    溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-    生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
-    大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-    讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-    超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-    菜單指引操作,25種語(yǔ)言可選
-    帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-    可下載更新軟件

 

德國(guó)EPKMiniTest720/730/740涂層測(cè)厚儀  技術(shù)參數(shù):

 

 

 

主機(jī)型號(hào)

MiniTest720

MiniTest730

MiniTest740

探頭類型

內(nèi)置

外置

內(nèi)置外置可換

數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

10

10

100

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量

10,000個(gè)

10,000個(gè)

100,000個(gè)

統(tǒng)計(jì)值

讀值個(gè)數(shù)、小值、大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)

校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

校準(zhǔn)模式

出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值

極限值監(jiān)控

聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限

測(cè)量單位

μm,mm,cm;milsinch,thou

數(shù)據(jù)接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節(jié)AA電池

標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244B499,D7091,E376
AS 3894.3SS 1841 60,SSPC- PA 2

操作溫度 /存放溫度

- 10~60/- 20~70

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

175g

210g

175g(內(nèi)置)/230g(外置)

 

探頭特性

F1.5,N07,FN1.5

F2

F5N2.5,FN5

F15

F

N

F

F

N

F

測(cè)量范圍

0~1.5mm

0~0.7mm

0~2mm

0~5mm

0~2.5mm

0~15mm

使用范圍

小工件,薄涂層

粗糙表面

標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛

厚涂層

測(cè)量原理

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

信號(hào)處理

探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP)

±(1μm+0.75%讀值)

±(1.5μm+0.75%讀值)

±(5μm+0.75%讀值)

重復(fù)性

±(0.5μm+0.5%讀值)

±(0.8μm+0.5%讀值)

±(2.5μm+0.5%讀值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

小曲率半徑()

1.0mm

1.5mm

5mm

小曲率半徑

(凹,外置探頭)

7.5mm

10mm

25mm

(凹,內(nèi)置探頭)

30mm

30mm

30mm

小測(cè)量面積

Ø5mm

Ø10mm

Ø25mm

小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續(xù)模式下測(cè)量速度

每秒20個(gè)讀數(shù)

單值模式下大測(cè)量速度

每分鐘70個(gè)讀數(shù)

 

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